




產品描述
JIMA(日本檢測儀器制造商協會),致力于關注各種檢測儀器,其中包括無損檢測儀器,JIMA分辨率測試卡,用于測量X射線系統的分辨率,以X射線系統在微米和納米焦點的圖像質量。 JIMA RT RC-02B分辨率測試卡 測試卡封裝在一個防護盒中 盒子的外形尺寸(W×D×T):40×30×15mm 芯片尺寸(W×D×T):5×5×0.06mm 圖案布局:L型 線/空間尺寸: 16種規格圖案, 0.4μm,0.5μm,0.6μm,0.7μm,0.8μm,0.9μm,1.0μm,1.5μm, 2.0μm,3.0μm,4.0μm,5.0μm,6.0μm,7.0,10.0μm,15.0μm JIMA RT RC-04 X射線分辨率測試卡 JIMA RT RC-05分辨率測試卡
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